为了符合WEEE和RoHS法规，必须对产品中有害物质的含量进行分析。下面介绍常用于简单分析的荧光X射线分析、公定分析用原子吸收分光光度法、ICP发射光谱法等仪器分析方法。让我们首先来介绍下荧光X射线分析法。
（1）测量原理
构成物质的原子有其固有的壳层电子能级。当这些原子受到X射线、γ射线、电子束等照射时，会产生具有该原子特有性质的X射线（特征X射线）。这些X射线被称为荧光X射线，已知其能量（波长）与原子的内层电子能级差即原子特有的壳层间跃迁能量相等。
利用这种荧光X射线分析物质中存在的原子种类和数量的方法，称为荧光X射线分析法。可用于执行确定原子类型的定性分析和调查其含量的定量分析。
（2）特征
（1）定性分析
有助于鉴定化合物、混合物、试剂中附着或混入的杂质元素，以及稀土等用常规分析方法难以完成的元素分析。
（2）定量分析
除了测定组成元素的重量比和摩尔比外，还可以测定镀层等薄膜的厚度和微量物质的重量。
（3）无需使用标准试样
以往这一分析方法需要使用标准试样，但通过采用基本参数法（FP法），现在无需标准样品即可进行分析。这是因为计算机处理信息的能力提高了，成本也降低了，从而更容易将原子特定的能量数据库与PF方法程序结合在一起。因此，只要知道样品的成分信息，即可依据基于荧光X射线产生原理的理论公式，使用测量条件和FP（物理常数或基本常数）计算出X射线强度，进而进行物质的定性及定量分析。
（4）可利用实际产品进行分析。
常规分析需要进行诸如将样品溶解在酸中等预处理，但荧光X射线分析法不需要这种预处理，可以直接分析固体。
